2-5μm红外光谱仪
2-5μm红外光谱仪
- 高达130 kHz全谱读出速率
- -80 dBm/nm灵敏度
- 2.0 ~ 5.0 μm带宽
- 光纤耦合输入
- 即插即用
介绍
中红外(MIR)光谱用于分析中红外信号。在工业和研究中，用于气体、液体和固体的非侵入性表征以及光源的表征。NLIR 2.0 – 5.0 μ m谱仪(S2050-400/S2050-130k)基于一种新的测量方案，将MIR光上转换为近可见光。硅基探测器在探测效率、速度和噪声方面远远优于MIR光探测器。因此，NLIR上转换技术为MIR系统带来了这些吸引人的特性和随之而来的优势。
下面看到的两个版本光谱仪的灵敏度在-80 dBm/nm或更好，最大全光谱读出率是130 kHz! 因此，该光谱仪能够以小于10 μ s的时间分辨率对信号进行表征和通过光谱测量化学过程中含量变化。
参数
应用案例
40KHz单脉冲测量
用80 kHz的全谱读出率光谱仪测量带宽约为3.5 μ m ~ 4.2 μ m，重复频率为40 kHz脉宽2 ns的超连续光源单脉冲。
图（a）显示12毫秒内采集的原始数据
图（b）显示40 kHz和80 kHz的采样结果，其他区域是空白的
塑料透过率
用一个30 W的碳化硅棒作为红外光源，对50 μ m的聚苯乙烯(PS)薄膜和800 μ m的聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜进行透射测量。S2050-400光谱仪的曝光时间设置为20毫秒，只捕捉单个镜头。没有对随后的数据进行平均或平滑处理。
在塑料识别或厚度分析的背景下，计算机算法可以允许更短的曝光时间，从而获得更快的采集速度。
光学薄膜透过率
用一个30 W的碳化硅棒作为红外光源来测量光学薄膜的透射率:3.7 -4.5 μ m的Ge带通滤波器(BPF)和在1064 nm处高反射、2.1 -4.5 μ m高透的YAG镜面。S2050-400光谱仪的曝光时间设置为20毫秒，只捕捉单张照片。没有对随后的数据进行平均或平滑处理。
光学镀膜质量控制和生产监控可能需要这种测量。
反射式光纤探头
光纤反射探头是一种单反射衰减全反射(ATR)晶体，具有光纤耦合的输入和输出的特点。
在本次测量中，来自碳化硅棒的30W光耦合到输入光纤，输出光纤连接到S2050-400光谱仪。首先用空气中的ATR探针作参考，随后探针分别插入水、丙烷-2-醇和葵花籽油中，产生这些吸收图。测量是在100毫秒的曝光时间下进行的单次拍摄，并通过数据扫描一个4像素宽的高斯滤波器进行平滑。
免费光谱仪软件
包含：
- 一个简单易用的软件程序。
- 数据实时流、外部触发模式、后台捕获、传输视图、数据保存等。
- 可根据要求在MATLAB和Python中提供光谱仪的API。
