bh荧光寿命成像FLIM系统
德国Becker&Hickl公司，专注于荧光寿命测量及荧光寿命显微（FLIM）领域的研究及产品系统研发，利用其独特的多维TCSPC技术，不断的引领FLIM技术的前进。基于bh公司常年的FLIM研究，可以提供基于各种显微镜的FLIM系统升级，方案灵活，性能可靠。
bh荧光寿命成像FLIM系统升级方案
bh可提供完整的DCS-120共聚焦/双光子FLIM系统和基于纳米位移台的PZ-FLIM-110系统，也可以在各类显微镜上升级。除了单个通道的升级，也可进行多通道的升级。此外，还可提供FASTAC快速FLIM升级。
荧光显微镜
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DCS-120 FLIM系统
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PZ-FLIM-110 系统
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由于激光和探测器可以灵活的与扫描单元耦合，DCS-120和PZ-FLIM-110可以在几乎所有荧光显微镜上进行FLIM升级。而且，扫描速度可以自由控制，所以对于PLIM长寿命实验也可轻松完成。此外，主二向色镜可以灵活更换，可以充分发挥超连续谱激光器及各波段激光器的优势。
激光共聚焦/双光子显微镜
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Zeiss
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Leica
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Olympus
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Nikon
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原子力/近场光学显微镜
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宏观样品FLIM系统
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基于bh公司的DCS-120共聚焦扫描头，结合大数值孔径物镜，可以对宏观样品采集FLIM数据。
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宽场FLIM系统
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激光共聚焦及双光子显微镜等点扫描成像系统造价昂贵，对于成像空间分辨率要求不高的应用，可以在普通荧光显微镜上升级宽场FLIM系统。
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Becker&Hickl GmbH-德国bh公司
成立于1993年，专注于荧光寿命测量及荧光寿命显微（FLIM）领域的研究及产品系统研发，利用其独特的多维TCSPC技术，不断的引领FLIM技术的前进。BH在全球范围内已提供超过1600套TCSPC系统，并定期在全球范围内组织5个专题技术研讨会，推动FLIM技术在生命科学、生物医学等领域的应用。
Dr. Wolfgang Becker著有《Advanced Time-Correlated Single Photon Counting Techniques》及《Advanced Time Correlated Single Photon Counting Applications》两本专著，细致介绍了多维TCSPC技术及其相关应用，为相关研究者提供了强大的支持。
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荧光寿命与FLIM技术
荧光寿命是指分子在单线激发态所平均停留的时间。它不仅与物质自身的结构有关，而且与其所处微环境的极性、粘度等条件有关，因此通过荧光寿命测定可以直接了解物质及所在体系发生的变化。荧光现象多发生在纳秒级，正好是分子运动的时间尺度，因此测量荧光寿命可以“看”到许多复杂的分子间作用过程，例如超分子体系中分子间的簇集，固液界面上吸附态高分子的构象重排、蛋白质高级结构的变化等。
FLIM-荧光寿命成像显微，是将荧光寿命测量与激光扫描共聚焦显微镜等样品扫描技术相结合的成像技术，通过扫描可以得到样品各空间点荧光强度随时间变化情况。由于荧光寿命是所研究系统的固有特性，与细胞内各处荧光探针的局部浓度无关，且不受光漂白和散射的影响，与荧光成像相比有更多优势。
| 脉冲激光器 |
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| 空间扫描单元 |
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| 显微镜 |
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| 单光子探测器 |
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| TCSPC计数器 |
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| FLIM软件 |
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16光谱FLIM成像
TCSPC—STED
同时获得FLIM&PLIM
bh多波长皮秒激光器
德国Becker & Hickl公司可提供用于荧光寿命测量的皮秒二极管激光器，具有成本低、可靠性高、体积紧凑易集成、无需维护校准和脉宽窄等优点，被广泛的应用在TCSPC及FLIM测量实验中。
bh皮秒二极管激光器
德国Becker & Hickl公司可提供用于荧光寿命测量的皮秒二极管激光器，具有成本低、可靠性高、体积紧凑易集成、无需维护校准和脉宽窄等优点，被广泛的应用在TCSPC及FLIM测量实验中。
bh TCSPC光子计数器
德国Becker & Hickl公司成立于1993年，拥有独特的时间相关单光子计数(TCSPC)技术，能够在短暂的实验过程中得到多维光子分布信息，如时间、波长、空间坐标、荧光寿命等。产品被广泛的应用于荧光光谱，荧光寿命成像及时域光学层析仪器。
bh单光子探测器
德国bh公司可提供各种类型的单光子探测器，用于TCSPC光子计数和FLIM实验。包含混合型Hybrid PMT, 计数型PMT, SPAD, 计数型InGaAs, NbN超导单光子探测器。覆盖UV-NIR光谱范围，最高时间分辨率可达17.8ps, 通道数最多可达16个。